Canal de video de China Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Chatea Contáctenos
En casa Vídeos Lista de reproducción Website

Instrumento preciso. Fuente de exploración Consistencia interna y externa.

Otros vídeos
February 17, 2025
Chatea Contáctenos
Con la unidad de medición de la fuente como núcleo, centrándose en la prueba de semiconductores de potencia.
Es muy pragmático.
Confiable
El desarrollo económico
Compatible
Es inteligente.
Estándar
Es emocionante.
Vídeos relacionados
Fuente de alimentación de alta tensión E300 00:24

Fuente de alimentación de alta tensión E300
Fuente de energía de alto voltaje
February 25, 2025
Tarjeta de adquisición de datos A400 con resolución ADC de 16 bits y velocidad de muestreo de 1 ms/s 00:24

Tarjeta de adquisición de datos A400 con resolución ADC de 16 bits y velocidad de muestreo de 1 ms/s
Tarjeta de adquisición de datos
February 26, 2025
10kV/6000A Analista de dispositivos de potencia Sistema de prueba estática PMST para MOSFET BJT semiconductores IGBT y SiC GaN 00:30

10kV/6000A Analista de dispositivos de potencia Sistema de prueba estática PMST para MOSFET BJT semiconductores IGBT y SiC GaN
Sistemas de ensayo de semiconductores
February 26, 2025
Sistema de envejecimiento láser de alta potencia multicanal LDBI 00:34

Sistema de envejecimiento láser de alta potencia multicanal LDBI
Sistemas de ensayo de semiconductores
February 26, 2025
Fuente de alimentación de pulso de alta corriente de 1000A/18V HCPL100 para el ensayo HEMT SiC/IGBT/GaN 00:24

Fuente de alimentación de pulso de alta corriente de 1000A/18V HCPL100 para el ensayo HEMT SiC/IGBT/GaN
Unidad de la medida de la fuente
February 25, 2025
Unidad de medición de la fuente de pulso de 18V/1A de cuatro canales con tarjeta de subsiguiente CBI403 00:28

Unidad de medición de la fuente de pulso de 18V/1A de cuatro canales con tarjeta de subsiguiente CBI403
Equipo de ensayo multicanal
February 24, 2025
Analista de parámetros de semiconductores de 1200V/100A SPA6100 00:36

Analista de parámetros de semiconductores de 1200V/100A SPA6100
Sistemas de ensayo de semiconductores
February 26, 2025
2 ms/s Tarjeta de adquisición de datos multicanal A400B Alta velocidad 00:27

2 ms/s Tarjeta de adquisición de datos multicanal A400B Alta velocidad
Unidad de la medida de la fuente
February 26, 2025
Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de 10V/1A de cuatro canales CBI402 00:24

Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de 10V/1A de cuatro canales CBI402
Equipo de ensayo multicanal
February 24, 2025
S300 Unidad de medición de la fuente de corriente continua 300V/1A para ensayo de las características eléctricas 00:24

S300 Unidad de medición de la fuente de corriente continua 300V/1A para ensayo de las características eléctricas
Unidad de la medida de la fuente
February 24, 2025