Canal de video de China Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Contáctenos
En casa Vídeos Lista de reproducción Página web

10V/500mA Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de cuatro canales CBI401

Equipo de ensayo multicanal
February 24, 2025
Keyword: Equipo de ensayo multicanal
Contáctenos
Las etiquetas:
#Unidad Smu #pxi SMU #Unidad de medida de origen PXI
Video Description:
Discover the CBI401, a 10V/500mA four-channel PXI Source Measure Unit subcard designed for high-density parallel testing. Ideal for semiconductors, sensors, and micro-power devices, it offers precision, low noise, and synchronized operation with up to 40 channels scalability.
Vídeos relacionados
Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de 10V/1A de cuatro canales CBI402 00:24

Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de 10V/1A de cuatro canales CBI402
Equipo de ensayo multicanal
February 24, 2025
Unidad de medición de la fuente de pulso de 18V/1A de cuatro canales con tarjeta de subsiguiente CBI403 00:28

Unidad de medición de la fuente de pulso de 18V/1A de cuatro canales con tarjeta de subsiguiente CBI403
Equipo de ensayo multicanal
February 24, 2025
Analista de parámetros de semiconductores de 1200V/100A SPA6100 00:36

Analista de parámetros de semiconductores de 1200V/100A SPA6100
Sistemas de ensayo de semiconductores
February 25, 2025
Sistema de ensayo del sensor de corriente de 1000A CTMS 00:24

Sistema de ensayo del sensor de corriente de 1000A CTMS
Sistemas de ensayo de semiconductores
February 25, 2025
S300 Unidad de medición de la fuente de corriente continua 300V/1A para ensayo de las características eléctricas 00:24

S300 Unidad de medición de la fuente de corriente continua 300V/1A para ensayo de las características eléctricas
Unidad de la medida de la fuente
February 24, 2025
Fuente de alimentación de alta tensión de 1200V/100mA para ensayo de tensión de avería IGBT 00:24

Fuente de alimentación de alta tensión de 1200V/100mA para ensayo de tensión de avería IGBT
Fuente de energía de alto voltaje
February 24, 2025
Fuente de alimentación de pulso de alta corriente de 1000A/18V HCPL100 para el ensayo HEMT SiC/IGBT/GaN 00:24

Fuente de alimentación de pulso de alta corriente de 1000A/18V HCPL100 para el ensayo HEMT SiC/IGBT/GaN
Unidad de la medida de la fuente
February 24, 2025
10kV/6000A Analista de dispositivos de potencia Sistema de prueba estática PMST para MOSFET BJT semiconductores IGBT y SiC GaN 00:30

10kV/6000A Analista de dispositivos de potencia Sistema de prueba estática PMST para MOSFET BJT semiconductores IGBT y SiC GaN
Sistemas de ensayo de semiconductores
February 25, 2025
Medidor de fuente de doble canal DP100B de 30V/30A con medición de voltaje/corriente y funcionamiento en cuatro cuadrantes 00:24

Medidor de fuente de doble canal DP100B de 30V/30A con medición de voltaje/corriente y funcionamiento en cuatro cuadrantes
Medidor de fuente de doble canal
February 24, 2025
Medidor de fuente de pulso de 100 V/1A/10A P200 para la caracterización de semiconductores 00:24

Medidor de fuente de pulso de 100 V/1A/10A P200 para la caracterización de semiconductores
Unidad de la medida de la fuente
February 24, 2025