Canal de video de China Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Contáctenos
En casa Vídeos Lista de reproducción Página web

Tarjeta de adquisición de datos A400 con resolución ADC de 16 bits y velocidad de muestreo de 1 ms/s

Tarjeta de adquisición de datos
February 26, 2025
Keyword: Tarjeta de adquisición de datos
Contáctenos
Las etiquetas:
#tarjeta de adquisición de datos de alta velocidad #Tarjeta Daq de alta velocidad #pxi SMU
Video Description:
Discover the A400 Data Acquisition Card, featuring 16-bit ADC resolution and a 1MS/s sampling rate. With 4 channels per card and up to 40 channels per host, it offers excellent galvanic isolation, overvoltage protection, and high-precision signal acquisition for complex electrical environments.
Vídeos relacionados
60A CW/600A QCW Pruebas de alta potencia Fuente de alimentación láser HCPL060 00:24

60A CW/600A QCW Pruebas de alta potencia Fuente de alimentación láser HCPL060
Prueba de la fuente de alimentación del láser
February 25, 2025
Unidad de medición de la fuente de corriente continua CS300 00:24

Unidad de medición de la fuente de corriente continua CS300
Equipo de ensayo multicanal
February 24, 2025
Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de 10V/1A de cuatro canales CBI402 00:24

Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de 10V/1A de cuatro canales CBI402
Equipo de ensayo multicanal
February 24, 2025
Unidad de medición de la fuente de corriente continua CS200 00:24

Unidad de medición de la fuente de corriente continua CS200
Equipo de ensayo multicanal
February 24, 2025
Medidor de fuente de pulso de 100 V/1A/10A P200 para la caracterización de semiconductores 00:24

Medidor de fuente de pulso de 100 V/1A/10A P200 para la caracterización de semiconductores
Unidad de la medida de la fuente
February 24, 2025
Unidad de medición de fuente de pulso de alta corriente HCP100 con corriente de salida de pulso máximo de 30A y tensión de salida máxima de 50V 00:24

Unidad de medición de fuente de pulso de alta corriente HCP100 con corriente de salida de pulso máximo de 30A y tensión de salida máxima de 50V
Unidad de la medida de la fuente
February 24, 2025
20A CW/20A QCW Pruebas de alta potencia Fuente de alimentación láser HCPL002 00:24

20A CW/20A QCW Pruebas de alta potencia Fuente de alimentación láser HCPL002
Prueba de la fuente de alimentación del láser
February 25, 2025
Analista de parámetros de semiconductores de 1200V/100A SPA6100 00:36

Analista de parámetros de semiconductores de 1200V/100A SPA6100
Sistemas de ensayo de semiconductores
February 26, 2025
Fuente de alimentación de pulso de alta corriente de 300A/30V HCPL030 para el ensayo HEMT SiC/IGBT/GaN 00:24

Fuente de alimentación de pulso de alta corriente de 300A/30V HCPL030 para el ensayo HEMT SiC/IGBT/GaN
Suministro de energía de alta corriente
February 25, 2025
10kV/6000A Analista de dispositivos de potencia Sistema de prueba estática PMST para MOSFET BJT semiconductores IGBT y SiC GaN 00:30

10kV/6000A Analista de dispositivos de potencia Sistema de prueba estática PMST para MOSFET BJT semiconductores IGBT y SiC GaN
Sistemas de ensayo de semiconductores
February 26, 2025