Unidad de medición de la fuente de semiconductores 100V 1A 10A Unidad de medición de la fuente de pulso P200

El P200 Benchtop Pulse Source Meter es un instrumento de prueba de alto rendimiento diseñado para integrar mediciones de precisión, salida de amplio rango dinámico y operación digital táctil intuitiva.Con una pantalla táctil de 5 pulgadas con una simplicidad similar a un teléfono inteligente, el P200 ofrece una salida de hasta 100 V y una corriente pulsada de 10 A, al tiempo que admite un funcionamiento de cuatro cuadrantes.sirve como una herramienta versátil para caracterizar semiconductores, nanomateriales, electrónica orgánica, electrónica impresa y otros componentes a pequeña escala y de baja potencia.

Características del producto

▪ ¿Cómo?Precisión y fiabilidad:La tecnología de medición avanzada garantiza una precisión de corrientes pulsadas de 1pA a 10A, garantizando datos confiables para aplicaciones críticas.

▪ ¿Cómo?Interfaz fácil de usar:La interfaz gráfica simplificada con una pantalla táctil de 5 pulgadas simplifica las configuraciones complejas, incluso para usuarios novatos.

▪ ¿Cómo?Amplio rango de ensayo:Cubre corrientes pulsadas de 1pA1A CC y 10A, voltaje 0100V, sensores de soporte, módulos de potencia y dispositivos de baja potencia.

▪ ¿Cómo?Salida de pulso estable:Alcanza un ancho de pulso mínimo de 200 μs con un control preciso, ideal para pruebas de semiconductores de alta velocidad.

▪ ¿Cómo?Modos de funcionamiento flexibles:El suministro bidireccional de corriente/enriquecimiento (modo fuente/enriquecimiento) simula escenarios del mundo real, incluidos los ensayos de recuperación de energía.

▪ ¿Cómo?Escaneo avanzado:Los barridos lineales, logarítmicos y personalizados optimizan la caracterización IV para materiales o dispositivos con comportamientos no lineales.

▪ ¿Cómo?Gestión eficiente de los datos:El almacenamiento USB y la generación de informes con un solo clic agilizan el análisis y el intercambio de datos.

▪ ¿Cómo?Integración sin fisuras:Las interfaces RS-232, GPIB y LAN permiten la integración del sistema ATE y el control remoto.

Parámetros del producto

Aplicaciones

▪ ¿Cómo?Industria de semiconductores:Prueba de fugas inversas en diodos, características de conmutación de MOSFET y rendimiento a altas temperaturas de dispositivos SiC para I+D y control de calidad.

▪ ¿Cómo?Energía y tecnología de pantalla:Medir el brillo del LED/AMOLED, la cromaticidad y la eficiencia energética.

▪ ¿Cómo?Validación del sensor:Asegurar la linealidad de los sensores de presión, la sensibilidad de los sensores de temperatura y la fiabilidad para el IoT y la automatización industrial.

▪ ¿Cómo?Ciencias de los materiales:Caracterizar la tinta electrónica para pantallas flexibles, la conductividad de grafeno / nanocables y los semiconductores orgánicos para la electrónica de próxima generación.