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| Nombre De La Marca: | PRECISE INSTRUMENT |
| Número De Modelo: | HCP300 |
| Cuota De Producción: | 1 Unidad |
| Tiempo De Entrega: | Entre 2 y 8 semanas |
| Condiciones De Pago: | T/T |
Unidad de medición SMU de 100V 100A Pulsometro de fuente de alta corriente HCP300 para IGBT
La unidad de medición de la fuente de pulso de escritorio de alta corriente HCP300 admite cuatro cuadros de operación, con una corriente de salida de pulso máxima de 100A y un voltaje de salida máximo de 100V. Su precisión de medición es de hasta el 0,1%.Es muy adecuado para probar módulos de células solares y dispositivo RF.
Características del producto
▪ ¿Cómo?La velocidad de muestreo de 250k y el rango de pulsos de 100A son especialmente adecuados para pruebas de dispositivos de alta corriente y alta potencia, como dispositivos de RF y módulos de células solares.
▪ ¿Cómo?Soluciones de prueba de rendimiento eléctrico de semiconductores fáciles de construir, con características de medición universal y estandarizada y precisa de señales de corriente débil.
▪ ¿Cómo?Conjunto de instrucciones SCPI estándar y biblioteca DLL, y fácil para el cliente para desarrollar secundario.
▪ ¿Cómo?Apoya la función de medición de dos cables y cuatro cables.
▪ ¿Cómo?Soporta IO de entrada y salida, máximo 5V, con polaridad de activación configurable.
Parámetros del producto
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Las partidas |
Parámetros |
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V-rango |
300 mV-100V |
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Las categorías I |
Modo de corriente continua: 100nA30A/Modo de pulso:100nA100A |
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Límites de potencia |
Modo de corriente continua: máximo300Modo W/Pulso: máximo50Las demás: |
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Ancho de pulso pequeño |
80 μs |
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Tasa de muestreo |
250,000 S/s |
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Precisión |
00,1% |
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El disparo: |
Apoya IO de activación de entrada y salida, máximo 5V, con polaridad de activación configurable |
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Muestra |
5.1pantalla táctil de pulgadas |
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Interfaces |
RS-232, GPIB, red local |
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Almacenamiento |
Soporte de USB |
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Fuente de alimentación |
100-240 V CA, 50/60 Hz |
|
Temperatura de trabajo |
25 ± 10 °C |
Aplicaciones
▪ ¿Cómo?Pruebas IV de semiconductores discretos
▪ ¿Cómo?Prueba IV de semiconductores de banda ancha
▪ ¿Cómo?Análisis de los parámetros de rendimiento eléctrico IV de GaN, SIC y otros semiconductores compuestos
▪ ¿Cómo?Pruebas de módulos de células solares
▪ ¿Cómo?Pruebas IV del dispositivo de RF
A. Noventajael
▪ ¿Cómo?Válvula de tensión máxima de 100 V
▪ ¿Cómo?5Display del panel frontal de 1 pulgada
▪ ¿Cómo?Software de prueba profesional gratuito
▪ ¿Cómo?DC máximo 30A, pulso máximo 100A
El video
El video
El video
El video
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| Nombre De La Marca: | PRECISE INSTRUMENT |
| Número De Modelo: | HCP300 |
| Cuota De Producción: | 1 Unidad |
| Detalles Del Embalaje: | En cartón. |
| Condiciones De Pago: | T/T |
Unidad de medición SMU de 100V 100A Pulsometro de fuente de alta corriente HCP300 para IGBT
La unidad de medición de la fuente de pulso de escritorio de alta corriente HCP300 admite cuatro cuadros de operación, con una corriente de salida de pulso máxima de 100A y un voltaje de salida máximo de 100V. Su precisión de medición es de hasta el 0,1%.Es muy adecuado para probar módulos de células solares y dispositivo RF.
Características del producto
▪ ¿Cómo?La velocidad de muestreo de 250k y el rango de pulsos de 100A son especialmente adecuados para pruebas de dispositivos de alta corriente y alta potencia, como dispositivos de RF y módulos de células solares.
▪ ¿Cómo?Soluciones de prueba de rendimiento eléctrico de semiconductores fáciles de construir, con características de medición universal y estandarizada y precisa de señales de corriente débil.
▪ ¿Cómo?Conjunto de instrucciones SCPI estándar y biblioteca DLL, y fácil para el cliente para desarrollar secundario.
▪ ¿Cómo?Apoya la función de medición de dos cables y cuatro cables.
▪ ¿Cómo?Soporta IO de entrada y salida, máximo 5V, con polaridad de activación configurable.
Parámetros del producto
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Las partidas |
Parámetros |
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V-rango |
300 mV-100V |
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Las categorías I |
Modo de corriente continua: 100nA30A/Modo de pulso:100nA100A |
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Límites de potencia |
Modo de corriente continua: máximo300Modo W/Pulso: máximo50Las demás: |
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Ancho de pulso pequeño |
80 μs |
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Tasa de muestreo |
250,000 S/s |
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Precisión |
00,1% |
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El disparo: |
Apoya IO de activación de entrada y salida, máximo 5V, con polaridad de activación configurable |
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Muestra |
5.1pantalla táctil de pulgadas |
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Interfaces |
RS-232, GPIB, red local |
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Almacenamiento |
Soporte de USB |
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Fuente de alimentación |
100-240 V CA, 50/60 Hz |
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Temperatura de trabajo |
25 ± 10 °C |
Aplicaciones
▪ ¿Cómo?Pruebas IV de semiconductores discretos
▪ ¿Cómo?Prueba IV de semiconductores de banda ancha
▪ ¿Cómo?Análisis de los parámetros de rendimiento eléctrico IV de GaN, SIC y otros semiconductores compuestos
▪ ¿Cómo?Pruebas de módulos de células solares
▪ ¿Cómo?Pruebas IV del dispositivo de RF
A. Noventajael
▪ ¿Cómo?Válvula de tensión máxima de 100 V
▪ ¿Cómo?5Display del panel frontal de 1 pulgada
▪ ¿Cómo?Software de prueba profesional gratuito
▪ ¿Cómo?DC máximo 30A, pulso máximo 100A
El video
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