Unidad SMU de 10V 200mA para pruebas de alto rendimiento en entornos paralelos

La subtarjeta modular CS400 es una unidad de medición de fuente (SMU) de alta densidad y multicanal diseñada para aplicaciones de pruebas paralelas de alto rendimiento.cada módulo integra cuatro canales independientes con una configuración de tierra común, compatibles perfectamente con los hosts de la serie CS (por ejemplo, CS1010C).Mejora significativa de la eficiencia de los ensayos al tiempo que se reducen los costes del sistema para entornos de producción en masa.

Características del producto

▪ ¿Cómo?Operación Cuatro Cuadrantes:Fuente de tensión/corriente precisa (±300V, ±1A) con medición simultánea de tensión/corriente (resolución de dos dígitos y medio).

▪ ¿Cómo?Modo multifuncional:Apoya la fuente de voltaje / corriente, el voltímetro, el amperímetro y las funcionalidades de carga electrónica.

▪ ¿Cómo?Escalabilidad de alta densidad:Diseño de 4 canales por subtarjeta, ampliable a 40 canales con un host CS1010C para pruebas de dispositivos paralelos.

▪ ¿Cómo?Alta precisión:Obtiene una precisión básica de ±0,1% en rangos completos en los modos de abastecimiento/hundimiento.

▪ ¿Cómo?Medición avanzada:Modo de medición de dos/cuatro cables (Kelvin) para una precisión de baja resistencia.

▪ ¿Cómo?Flexibilidad del disparador:Las señales de activación de E/S configurables (borde ascendente/descendiente) para la sincronización entre varios dispositivos.

Parámetros del producto

Aplicaciones

▪ ¿Cómo? Semiconductores de potenciaSe utiliza para diversos ensayos de semiconductores de potencia representados por SiC (carburo de silicio) y GaN (nitruro de galio), incluidos los ensayos de voltaje de ruptura y ensayos de envejecimiento,proporcionar apoyo de datos para la investigación y el desarrollo y la inspección de calidad de semiconductores de potencia.

▪ ¿Cómo?Disparidad de los dispositivos:Puede realizar pruebas de tensión resistente en dispositivos discretos como diodos y transistores, asegurando que el rendimiento de estos dispositivos cumpla con los estándares en diferentes entornos de voltaje.

▪ ¿Cómo? Circuitos integrados:En el campo de los circuitos integrados y la microelectrónica, se utiliza para pruebas relacionadas con chips para garantizar la estabilidad y fiabilidad de los chips en entornos de alto voltaje.

▪ ¿Cómo? Investigación de materiales:Para el estudio de las propiedades eléctricas de los materiales semiconductores, a través de la salida de alto voltaje y las funciones de medición, se analizan las características de los materiales,contribución a la investigación y desarrollo de nuevos materiales semiconductores.

▪ ¿Cómo?Los sensores:Proporciona soluciones de prueba de verificación de rendimiento para varios sensores, simula entornos de alto voltaje y detecta el rendimiento de los sensores en condiciones de voltaje extremo.

▪ ¿Cómo?El campo de enseñanza:Proporciona equipos profesionales para laboratorios de enseñanza de circuitos integrados y microelectrónica,ayudar a los estudiantes a aprender los principios y métodos de operación de pruebas de alto voltaje y mejorar sus habilidades prácticas.