10V/500mA Cuatro canales de tarjeta de subdirección DC Unidad de medición de la fuente CS401

El CS400 es una solución SMU modular diseñada para pruebas de dispositivos de alto volumen, con una innovadora arquitectura de terreno común con 4 canales por subcarta.Cuando esté integrado con el sistema de acogida CS1010C, consigue un control sincronizado de hasta 40 canales, reduciendo los costes de integración del sistema en un 50% en comparación con los instrumentos tradicionales de un solo canal.Optimizado para aplicaciones de alto rendimiento, incluidas las pruebas de envejecimiento de la línea de producción de LED/OLED y la inspección paralela de múltiples sondas de obleas de semiconductores.

Características del producto

▪ ¿Cómo?± 0,1% Precisión básica:Mantiene la precisión a través de rangos completos en los modos de abastecimiento y hundimiento.

▪ ¿Cómo?Operación multifunción:Combina la fuente de voltaje/corriente, el voltímetro/amperímetro y las capacidades de carga electrónica.

▪ ¿Cómo?El sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero se utilizará en el caso de las emisiones de gases de efecto invernadero.Polaridad del gatillo configurable (borde ascendente/descendiente) para la secuenciación automática de ensayos.

▪ ¿Cómo? Control independiente del canal:Cada canal funciona de forma autónoma para escenarios de ensayo de dispositivos mixtos.

▪ ¿Cómo?Diseño eficiente en el espacio:La arquitectura modular compacta maximiza la densidad de rack en entornos de producción.

▪ ¿Cómo?Compatibilidad con SCPI:El conjunto de comandos estándar permite una integración perfecta con los marcos de automatización LabVIEW / Python.

Parámetros del producto

Aplicaciones

▪ ¿Cómo?Pruebas de dispositivos semiconductores:Análisis de parámetros estáticos/dinámicos de dispositivos discretos (MOSFET, diodos, BJT).

▪ ¿Cómo? Nanomateriales y electrónica orgánica:Pruebas de resistividad y efecto Hall para grafeno, nanocables y materiales de tinta electrónica.

▪ ¿Cómo?Evaluación del dispositivo energético:Pruebas de eficiencia y escaneo de curvas IV para células solares, convertidores CC-CC y baterías.

▪ ¿Cómo?Calibración del sensor:Caracterización de la sensibilidad y la respuesta de las resistencias sensibles al gas y a la presión y de los sensores de temperatura.

▪ ¿Cómo?Pruebas paralelas multicanal:Pruebas de envejecimiento de paneles LED/AMOLED y control de calidad de la producción en gran volumen para la validación de lotes de varios dispositivos.