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Nombre De La Marca: | PRECISE INSTRUMENT |
Cuota De Producción: | 1 Unidad |
Tiempo De Entrega: | Entre 2 y 8 semanas |
Condiciones De Pago: | T/T |
18V 1A PXI SMU Cuatro canales de subalternas de fuente de corriente continua Unidad de medidor CS402
El CS402 es una solución SMU modular diseñada para pruebas de dispositivos de alto volumen, con una innovadora arquitectura de terreno común con 4 canales integrados por subtarjeta.Cuando esté emparejado con el sistema de acogida CS1010C, permite un control sincronizado de hasta 40 canales, reduciendo los costes de integración del sistema en un 50% en comparación con los instrumentos tradicionales de un solo canal.Optimizado para escenarios de alto rendimiento, incluidas las pruebas de envejecimiento de la línea de producción de LED/OLED y la inspección paralela de múltiples sondas de obleas de semiconductores.
Características del producto
▪ ¿Cómo?Integración flexible del software:Soporta comandos SCPI y controladores DLL para flujos de trabajo de prueba automatizados.
▪ ¿Cómo?Sincronización de cuatro canales:"Medición" de las emisiones de gases de efecto invernadero.
▪ ¿Cómo?Diseño de aislamiento:Aislamiento físico independiente entre canales y aislamiento eléctrico entre subtarjetas.
▪ ¿Cómo?Modo multifuncional:Combina la fuente de voltaje / corriente, el voltímetro, el amperiómetro y las funcionalidades de carga electrónica.
▪ ¿Cómo?Medida de precisión:Métodos de medición de dos/cuatro cables (Kelvin) para ensayos de baja resistencia de alta precisión.
▪ ¿Cómo?Alta precisión:Alcanza una precisión básica de ±0,1% en rangos completos tanto en los modos de abastecimiento como en los de hundimiento.
Parámetros del producto
Las partidas |
Parámetros |
Número de canales |
4 canales |
Rango de tensión |
1 ~ 18V |
Resolución de tensión mínima |
Las demás: |
Rango de corriente |
5uA1A |
Resolución mínima de corriente |
Las demás: |
Potencia de salida máxima de onda continua (CW) |
Canal 10W, fuente de 4 cuadrantes o modo sumidero |
Límites de la fuente de voltaje |
±18V (para el rango ≤ 500mA), ±10V (para el rango ≤ 1A) |
Límites actuales de las fuentes |
± 1A (para el rango ≤ 10V) |
Capacidad de carga estable |
< 22nF |
Ruido de banda ancha (20MHz) |
2mV RMS (valor típico), < 20mV Vp-p (valor típico) |
Tasa máxima de muestreo |
1000 S/s |
Precisión de medición de la fuente |
0.10% |
Anfitriones con los que es compatible |
Las demás partidas del anexo II |
Aplicaciones
▪ ¿Cómo?Pruebas de dispositivos semiconductores:Medición de parámetros estáticos y análisis de características dinámicas de dispositivos discretos (MOSFET, diodos, BJT).
▪ ¿Cómo?Nanomateriales y electrónica orgánica:Pruebas de resistividad y efecto Hall para grafeno, nanocables y materiales de tinta electrónica.
▪ ¿Cómo?Evaluación del dispositivo energético:Evaluación de la eficiencia energética y exploración de curvas IV para células solares, convertidores CC-CC y baterías.
▪ ¿Cómo?Calibración del sensor:Pruebas de sensibilidad y rendimiento de respuesta de resistencias sensibles al gas/a la presión y sensores de temperatura.
▪ ¿Cómo?Pruebas paralelas multicanal:Aplicaciones de alto rendimiento, incluidos los ensayos de envejecimiento de los paneles LED/AMOLED y la inspección de la calidad de los lotes para los dispositivos producidos en serie.
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Nombre De La Marca: | PRECISE INSTRUMENT |
Cuota De Producción: | 1 Unidad |
Detalles Del Embalaje: | En cartón. |
Condiciones De Pago: | T/T |
18V 1A PXI SMU Cuatro canales de subalternas de fuente de corriente continua Unidad de medidor CS402
El CS402 es una solución SMU modular diseñada para pruebas de dispositivos de alto volumen, con una innovadora arquitectura de terreno común con 4 canales integrados por subtarjeta.Cuando esté emparejado con el sistema de acogida CS1010C, permite un control sincronizado de hasta 40 canales, reduciendo los costes de integración del sistema en un 50% en comparación con los instrumentos tradicionales de un solo canal.Optimizado para escenarios de alto rendimiento, incluidas las pruebas de envejecimiento de la línea de producción de LED/OLED y la inspección paralela de múltiples sondas de obleas de semiconductores.
Características del producto
▪ ¿Cómo?Integración flexible del software:Soporta comandos SCPI y controladores DLL para flujos de trabajo de prueba automatizados.
▪ ¿Cómo?Sincronización de cuatro canales:"Medición" de las emisiones de gases de efecto invernadero.
▪ ¿Cómo?Diseño de aislamiento:Aislamiento físico independiente entre canales y aislamiento eléctrico entre subtarjetas.
▪ ¿Cómo?Modo multifuncional:Combina la fuente de voltaje / corriente, el voltímetro, el amperiómetro y las funcionalidades de carga electrónica.
▪ ¿Cómo?Medida de precisión:Métodos de medición de dos/cuatro cables (Kelvin) para ensayos de baja resistencia de alta precisión.
▪ ¿Cómo?Alta precisión:Alcanza una precisión básica de ±0,1% en rangos completos tanto en los modos de abastecimiento como en los de hundimiento.
Parámetros del producto
Las partidas |
Parámetros |
Número de canales |
4 canales |
Rango de tensión |
1 ~ 18V |
Resolución de tensión mínima |
Las demás: |
Rango de corriente |
5uA1A |
Resolución mínima de corriente |
Las demás: |
Potencia de salida máxima de onda continua (CW) |
Canal 10W, fuente de 4 cuadrantes o modo sumidero |
Límites de la fuente de voltaje |
±18V (para el rango ≤ 500mA), ±10V (para el rango ≤ 1A) |
Límites actuales de las fuentes |
± 1A (para el rango ≤ 10V) |
Capacidad de carga estable |
< 22nF |
Ruido de banda ancha (20MHz) |
2mV RMS (valor típico), < 20mV Vp-p (valor típico) |
Tasa máxima de muestreo |
1000 S/s |
Precisión de medición de la fuente |
0.10% |
Anfitriones con los que es compatible |
Las demás partidas del anexo II |
Aplicaciones
▪ ¿Cómo?Pruebas de dispositivos semiconductores:Medición de parámetros estáticos y análisis de características dinámicas de dispositivos discretos (MOSFET, diodos, BJT).
▪ ¿Cómo?Nanomateriales y electrónica orgánica:Pruebas de resistividad y efecto Hall para grafeno, nanocables y materiales de tinta electrónica.
▪ ¿Cómo?Evaluación del dispositivo energético:Evaluación de la eficiencia energética y exploración de curvas IV para células solares, convertidores CC-CC y baterías.
▪ ¿Cómo?Calibración del sensor:Pruebas de sensibilidad y rendimiento de respuesta de resistencias sensibles al gas/a la presión y sensores de temperatura.
▪ ¿Cómo?Pruebas paralelas multicanal:Aplicaciones de alto rendimiento, incluidos los ensayos de envejecimiento de los paneles LED/AMOLED y la inspección de la calidad de los lotes para los dispositivos producidos en serie.