logo
Un buen precio.  en línea

Detalles de los productos

Created with Pixso. En casa Created with Pixso. Productos Created with Pixso.
Equipo de ensayo multicanal
Created with Pixso. 10V 500mA PXI Unidad de medición de la fuente Sub tarjeta Pulso PXI SMU Unidad CBI401

10V 500mA PXI Unidad de medición de la fuente Sub tarjeta Pulso PXI SMU Unidad CBI401

Nombre De La Marca: PRECISE INSTRUMENT
Número De Modelo: El CBI401
Cuota De Producción: 1 Unidad
Tiempo De Entrega: Entre 2 y 8 semanas
Condiciones De Pago: T/T
Información detallada
Lugar de origen:
porcelana
Número de canales:
4 canales
rango de tensión:
±10V
Rango de corriente:
2mA ̇ 500mA
Resolución de ancho de pulso programable:
1μS
Potencia de salida máxima:
5W/CH ((DC/Pulso)
Detalles de empaquetado:
En cartón.
Capacidad de la fuente:
500 SET/MONTH
Resaltar:

Unidad de medición de la fuente de 10V 500mA PXI

,

Sub Card Pulse PXI SMU

,

Unidad SMU de pulso PXI

Descripción del producto

10V 500mA PXI Unidad de medición de la fuente Sub tarjeta Pulso PXI SMU Unidad CBI401

La subtarjeta modular CBI401 es un componente central de las Unidades de Medición de Fuentes digitales de precisión (SMU) de la serie CS, diseñadas para la caracterización eléctrica multicanal de potencia media a baja.Con una arquitectura de tierra común de cuatro canales de una sola tarjeta, cada canal funciona de forma independiente o sincronizada, ideal para pruebas paralelas de alta densidad. Compatible con los hosts Pusces 1003CS (3 ranuras) y 1010CS (10 ranuras),Aprovecha un ancho de banda de plano trasero de 3Gbps y un bus activador de 16 canales para permitir la coordinación de múltiples dispositivos de alta velocidadOptimizado para pruebas de lotes de baja ruido y alta estabilidad, ofrece hasta 500mA de corriente, 10V de voltaje y 5W de potencia por canal, abordando las necesidades de pruebas de precisión en semiconductores, sensores,y dispositivos de microalimentación.

 

Características del producto

▪ ¿Cómo?Diseño multicanal de alta densidad:Integra 4 canales independientes por subcarta para pruebas de dispositivos paralelos.

▪ ¿Cómo? Operación sincronizada:La sincronización entre canales, activada por hardware, garantiza una precisión de tiempo a nivel de μs.

▪ ¿Cómo? Precisión y bajo ruido:0.1% de precisión de fuente/medición con resolución de 51⁄2 dígitos; medición de corriente hasta 5μA, rango de voltaje 10mV10V.

▪ ¿Cómo? Operación Cuatro Cuadrantes:Simula el comportamiento de la fuente de alimentación o de la carga electrónica en los modos de abastecimiento/hundimiento.

▪ ¿Cómo? Flexibilidad en dos modos:Soporta protocolos de prueba pulsados y de CC para la caracterización dinámica.

▪ ¿Cómo? Arquitectura escalable:Integración perfecta con los hosts de la serie CS para la expansión del sistema hasta 40 canales.

 

Parámetros del producto

Las partidas

Parámetros

Número de canales

4 canales

Rango de tensión

± 10 V

Resolución de tensión mínima

1 mV

Rango de corriente

2mA ̇ 500mA

Resolución mínima de corriente

200nA

Ancho mínimo del pulso

100 μs, ciclo máximo de trabajo 100%

Resolución de ancho de pulso programable

1 μs

Potencia de salida máxima de onda continua (CW)

5W, fuente de 4 cuadrantes o modo sumidero

Potencia de salida máxima de pulso (PW)

5W, fuente de 4 cuadrantes o modo sumidero

Capacidad de carga estable

< 22nF

Ruido de banda ancha (20MHz)

2mV RMS (valor típico), < 20mV Vp-p (valor típico)

Tasa máxima de muestreo

1000 S/s

Precisión de medición de la fuente

0.10%

Anfitriones con los que es compatible

Las demás partidas del anexo II

 

Aplicaciones

▪ ¿Cómo? ensayo de las características de los dispositivos semiconductores discretos,incluidos las resistencias, los diodos, los diodos emisores de luz, los diodos Zener, los diodos PIN, los transistores BJT, los MOSFET, los SIC, los GaN y otros dispositivos;

▪ ¿Cómo? Pruebas de energía y eficiencia,incluidos los LED/AMOLED, las células solares, los convertidores CC-CC,etc.;

▪ ¿Cómo? ensayo de las características del sensor, incluida la resistividad, el efecto Hall, etc.;

▪ ¿Cómo? Prueba de las características de los materiales orgánicos,incluida la tinta electrónica, la tecnología electrónica impresa,etc.;

▪ ¿Cómo? Prueba de las características de los nanomateriales, incluido el grafeno, los nanocables, etc.

 

 

Un buen precio.  en línea

Detalles De Los Productos

Created with Pixso. En casa Created with Pixso. Productos Created with Pixso.
Equipo de ensayo multicanal
Created with Pixso. 10V 500mA PXI Unidad de medición de la fuente Sub tarjeta Pulso PXI SMU Unidad CBI401

10V 500mA PXI Unidad de medición de la fuente Sub tarjeta Pulso PXI SMU Unidad CBI401

Nombre De La Marca: PRECISE INSTRUMENT
Número De Modelo: El CBI401
Cuota De Producción: 1 Unidad
Detalles Del Embalaje: En cartón.
Condiciones De Pago: T/T
Información detallada
Lugar de origen:
porcelana
Nombre de la marca:
PRECISE INSTRUMENT
Número de modelo:
El CBI401
Número de canales:
4 canales
rango de tensión:
±10V
Rango de corriente:
2mA ̇ 500mA
Resolución de ancho de pulso programable:
1μS
Potencia de salida máxima:
5W/CH ((DC/Pulso)
Cantidad de orden mínima:
1 Unidad
Detalles de empaquetado:
En cartón.
Tiempo de entrega:
Entre 2 y 8 semanas
Condiciones de pago:
T/T
Capacidad de la fuente:
500 SET/MONTH
Resaltar:

Unidad de medición de la fuente de 10V 500mA PXI

,

Sub Card Pulse PXI SMU

,

Unidad SMU de pulso PXI

Descripción del producto

10V 500mA PXI Unidad de medición de la fuente Sub tarjeta Pulso PXI SMU Unidad CBI401

La subtarjeta modular CBI401 es un componente central de las Unidades de Medición de Fuentes digitales de precisión (SMU) de la serie CS, diseñadas para la caracterización eléctrica multicanal de potencia media a baja.Con una arquitectura de tierra común de cuatro canales de una sola tarjeta, cada canal funciona de forma independiente o sincronizada, ideal para pruebas paralelas de alta densidad. Compatible con los hosts Pusces 1003CS (3 ranuras) y 1010CS (10 ranuras),Aprovecha un ancho de banda de plano trasero de 3Gbps y un bus activador de 16 canales para permitir la coordinación de múltiples dispositivos de alta velocidadOptimizado para pruebas de lotes de baja ruido y alta estabilidad, ofrece hasta 500mA de corriente, 10V de voltaje y 5W de potencia por canal, abordando las necesidades de pruebas de precisión en semiconductores, sensores,y dispositivos de microalimentación.

 

Características del producto

▪ ¿Cómo?Diseño multicanal de alta densidad:Integra 4 canales independientes por subcarta para pruebas de dispositivos paralelos.

▪ ¿Cómo? Operación sincronizada:La sincronización entre canales, activada por hardware, garantiza una precisión de tiempo a nivel de μs.

▪ ¿Cómo? Precisión y bajo ruido:0.1% de precisión de fuente/medición con resolución de 51⁄2 dígitos; medición de corriente hasta 5μA, rango de voltaje 10mV10V.

▪ ¿Cómo? Operación Cuatro Cuadrantes:Simula el comportamiento de la fuente de alimentación o de la carga electrónica en los modos de abastecimiento/hundimiento.

▪ ¿Cómo? Flexibilidad en dos modos:Soporta protocolos de prueba pulsados y de CC para la caracterización dinámica.

▪ ¿Cómo? Arquitectura escalable:Integración perfecta con los hosts de la serie CS para la expansión del sistema hasta 40 canales.

 

Parámetros del producto

Las partidas

Parámetros

Número de canales

4 canales

Rango de tensión

± 10 V

Resolución de tensión mínima

1 mV

Rango de corriente

2mA ̇ 500mA

Resolución mínima de corriente

200nA

Ancho mínimo del pulso

100 μs, ciclo máximo de trabajo 100%

Resolución de ancho de pulso programable

1 μs

Potencia de salida máxima de onda continua (CW)

5W, fuente de 4 cuadrantes o modo sumidero

Potencia de salida máxima de pulso (PW)

5W, fuente de 4 cuadrantes o modo sumidero

Capacidad de carga estable

< 22nF

Ruido de banda ancha (20MHz)

2mV RMS (valor típico), < 20mV Vp-p (valor típico)

Tasa máxima de muestreo

1000 S/s

Precisión de medición de la fuente

0.10%

Anfitriones con los que es compatible

Las demás partidas del anexo II

 

Aplicaciones

▪ ¿Cómo? ensayo de las características de los dispositivos semiconductores discretos,incluidos las resistencias, los diodos, los diodos emisores de luz, los diodos Zener, los diodos PIN, los transistores BJT, los MOSFET, los SIC, los GaN y otros dispositivos;

▪ ¿Cómo? Pruebas de energía y eficiencia,incluidos los LED/AMOLED, las células solares, los convertidores CC-CC,etc.;

▪ ¿Cómo? ensayo de las características del sensor, incluida la resistividad, el efecto Hall, etc.;

▪ ¿Cómo? Prueba de las características de los materiales orgánicos,incluida la tinta electrónica, la tecnología electrónica impresa,etc.;

▪ ¿Cómo? Prueba de las características de los nanomateriales, incluido el grafeno, los nanocables, etc.