10V 1A PXI SMU 4 canales Sub tarjeta de pulso SMU Unidad de medición de la fuente CBI402

La subtarjeta modular CBI402 es una unidad de medición de fuentes (SMU) de alta densidad y múltiples canales diseñada para escenarios de ensayo de alta eficiencia y precisión.Con una arquitectura basada en tarjetas con 4 canales independientes por subtarjeta y una configuración de suelo común, se integra perfectamente con los hosts de la serie CS (por ejemplo, CS1010C), lo que permite una expansión escalable de hasta 40 canales por host.Este diseño aumenta significativamente el rendimiento de las pruebas al tiempo que reduce los costos de integración del sistema, lo que lo hace ideal para aplicaciones de alto volumen como la validación de dispositivos de potencia y pruebas de obleas de múltiples sondas.

Características del producto

▪ ¿Cómo?Integración multifuncional:Combina las funciones de fuente de voltaje / corriente, medición y carga electrónica.

▪ ¿Cómo?Operación Cuatro Cuadrantes:Soporta modos de abastecimiento/depósito (±10V, ±1A) para la caracterización dinámica del dispositivo.

▪ ¿Cómo?Alta potencia de salida:Proporciona hasta 1A de corriente y 10W por canal para capacidades de prueba robustas.

▪ ¿Cómo?Control sincronizado de varios canales:Permite el suministro/medición paralelo a través de canales con alineación de tiempo a nivel de μs.

▪ ¿Cómo?Modos de ensayo dobles:Los modos de pulso y de corriente continua permiten una adaptación flexible del protocolo de ensayo.

▪ ¿Cómo? Arquitectura configurable:Los canales funcionan de forma independiente o en grupos sincronizados para flujos de trabajo de pruebas de dispositivos mixtos.

Parámetros del producto

Aplicaciones

▪ ¿Cómo?Semiconductores de potenciaSe utiliza para diversos ensayos de semiconductores de potencia representados por SiC (carburo de silicio) y GaN (nitruro de galio), incluidos los ensayos de voltaje de ruptura y ensayos de envejecimiento,proporcionar apoyo de datos para la investigación y el desarrollo y la inspección de calidad de semiconductores de potencia.

▪ ¿Cómo?Disparidad de los dispositivos:Puede realizar pruebas de tensión resistente en dispositivos discretos como diodos y transistores, asegurando que el rendimiento de estos dispositivos cumpla con los estándares en diferentes entornos de voltaje.

▪ ¿Cómo?Circuitos integrados:En el campo de los circuitos integrados y la microelectrónica, se utiliza para pruebas relacionadas con chips para garantizar la estabilidad y fiabilidad de los chips en entornos de alto voltaje.

▪ ¿Cómo?Investigación de materiales:Para el estudio de las propiedades eléctricas de los materiales semiconductores, a través de la salida de alto voltaje y las funciones de medición, se analizan las características de los materiales,contribución a la investigación y desarrollo de nuevos materiales semiconductores.

▪ ¿Cómo?Los sensores:Proporciona soluciones de prueba de verificación de rendimiento para varios sensores, simula entornos de alto voltaje y detecta el rendimiento de los sensores en condiciones de voltaje extremo.

▪ ¿Cómo?El campo de enseñanza:Proporciona equipos profesionales para laboratorios de enseñanza de circuitos integrados y microelectrónica,ayudar a los estudiantes a aprender los principios y métodos de operación de pruebas de alto voltaje y mejorar sus habilidades prácticas.