300A 30V Fuente de alimentación de pulso de alta corriente HCPL030 para SiC IGBT GaN HEMT prueba

La fuente de alimentación de pulso de alta corriente de la serie HCPL030 es una fuente de corriente de pulso constante.con relé de control externo), soporte para medición de voltaje de pulso de dos canales (muestreo de picos) y soporte para conmutación de polaridad de salida.Tiene una corriente de salida de unidad única de 300A y admite la medición paralela de al menos seis o más dispositivosEl dispositivo está dirigido principalmente a la prueba de obleas y puede utilizarse en escenarios de prueba que requieren alta corriente para diodos Schottky, pilas de puente rectificador, dispositivos IGBT, módulos de medio puente IGBT,Módulos de gestión de la información, etc. con una corriente inferior a 300A. Utilizando este dispositivo, se puede completar de forma independiente la prueba de barrido de "tensión actual en estado".

Características del producto

▪ ¿Cómo?La anchura del pulso es ajustable continuamente de 50 μs a 1 ms.

▪ ¿Cómo?Tiempo de elevación de 10 μs (tiempo típico) ultra rápido.

▪ ¿Cómo?Medición de voltaje síncrono de dos canales con una precisión del 0,1%.

▪ ¿Cómo?300 A de salida programable por unidad.

▪ ¿Cómo?Apoya la protección de sobrecorriente y la protección de circuito abierto anormal.

▪ ¿Cómo?Aplicable al ensayo del tiempo de respuesta de los sensores de alta corriente (respuesta de paso).

Parámetros del producto

Aplicaciones

▪ ¿Cómo?Diodo de Schottky:Se utiliza para probar el voltaje de avance instantáneo del diodo Schottky. Puede proporcionar pulsos de alta corriente para simular la situación de alta corriente en funcionamiento real,y medir con precisión sus parámetros de rendimiento en condiciones de alta corriente.

▪ ¿Cómo?El sistema de control de la velocidad es el siguiente:Puede realizar pruebas de barrido IV en la pila de puente rectificador, detectar el rendimiento de conducción y la variación de voltaje de la pila de puente rectificador bajo diferentes corrientes,y evaluar su calidad y rendimiento.

▪ ¿Cómo?Dispositivo IGBT:Puede probar parámetros como la caída de voltaje en estado activo y la impedancia de cable de enlace del IGBT.Esto ayuda a los ingenieros a comprender el estado de funcionamiento del IGBT bajo pulsos de alta corriente y determinar si cumple con los requisitos de diseño y los estándares de calidad.

▪ ¿Cómo?El módulo de medio puente IGBT, módulo IPM:Para el módulo de medio puente IGBT y el módulo IPM, se pueden completar elementos de prueba tales como la caída de voltaje del IGBT en estado de encendido, el voltaje de diodo instantáneo hacia adelante y la impedancia del cable de unión,proporcionar apoyo de datos para la evaluación del rendimiento y la inspección de calidad de los módulos.

▪ ¿Cómo?Prueba del sensor de alta corriente:Es aplicable a la prueba del tiempo de respuesta (pasos) de los sensores de alta corriente.prueba la velocidad de respuesta y la precisión del sensor a los cambios de corriente, y evalúa los indicadores de rendimiento del sensor.