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Detalles de los productos

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Prueba de la fuente de alimentación del láser
Created with Pixso. 20A CW / 20A QCW Prueba de fuente de alimentación láser HCPL002 Fuente de alimentación láser de diodo de alta potencia

20A CW / 20A QCW Prueba de fuente de alimentación láser HCPL002 Fuente de alimentación láser de diodo de alta potencia

Nombre De La Marca: PRECISE INSTRUMENT
Número De Modelo: HCPL002
Cuota De Producción: 1 Unidad
Tiempo De Entrega: Entre 2 y 8 semanas
Condiciones De Pago: T/T
Información detallada
Lugar de origen:
porcelana
Modos de trabajo:
CW y QCW
Corriente de pulso máxima:
20A
Corriente máxima de DC:
20A
Ancho del pulso:
100 μs Min., 1 μs Paso
Detalles de empaquetado:
En cartón.
Capacidad de la fuente:
500 SET/MONTH
Resaltar:

20A Prueba de QCW de la fuente de alimentación láser

,

Fuente de alimentación láser de ensayo de 20A CW

,

HCPL002 Fuente de alimentación del láser de diodo

Descripción del producto

20A CW / 20A QCW Prueba de fuente de alimentación láser HCPL002 Fuente de alimentación láser de diodo de alta potencia

HCPL002 es una fuente de alimentación de prueba láser de alta potencia diseñada para satisfacer las necesidades de prueba más exigentes con tecnología avanzada.y las corrientes CW y QCW pueden alcanzar hasta 20A, proporcionando un soporte de alimentación estable y fiable para varios escenarios de ensayo.

 

Características del producto

▪ ¿Cómo?La salida actual presenta una precisión extremadamente alta, alcanzando una precisión del 0,1% para garantizar datos de ensayo confiables.

▪ ¿Cómo?Equipado con una robusta capacidad de resistencia a las sobretensiones, puede resistir eficazmente las sobretensiones repentinas de corriente, salvaguardando tanto el equipo como los dispositivos probados.

▪ ¿Cómo?Soporta pruebas de escaneo LIV (Light-Current-Voltage) para una evaluación integral del rendimiento de los dispositivos, al tiempo que ofrece diversos modos de escaneo para adaptarse a los diversos requisitos de prueba.

▪ ¿Cómo?Se proporcionan interfaces de comunicación múltiples (RS-485/LAN) para facilitar la integración perfecta con otros sistemas, lo que permite una transmisión y un control eficientes de los datos.

 

Parámetros del producto

Las partidas Parámetros
Entrada de potencia 220 V, 50/60 Hz

Modo de trabajo

CW y QCW

Ancho del pulso

100 μs min., pasos de 1 μs

Frecuencia del pulso

Ciclo de trabajo máximo 100% @20A, 10kHz, paso de 0,1Hz

Corriente de accionamiento por pulso

20A en pasos de 5mA

Corriente de transmisión de corriente continua

20A, 5mA pasos

Precisión de la corriente de accionamiento

Las emisiones de gases de efecto invernadero se calcularán en función de la temperatura de los gases de efecto invernadero.

Válvula de salida

60 V, adaptado a la carga

Medición del voltaje

rango de 3V, precisión ±0,1%±2mV; el rango es de 30V y la precisión ±0,1%±10mV; el rango es de 60V y la precisión ±0,1%±80mV

Canales de medición de voltaje

16 canales para la multiplexación de tiempo compartido

Detección de fotocorriente

0.1mA, precisión ±0,5%±1μA; 1mA, ±0,5%±8μA; 10mA, ±0,5%±60μA

Canales ópticos de detección de flujo

16 canales para la multiplexación de tiempo compartido

Canales de vigilancia de la temperatura

32 canales para la multiplexación por tiempo compartido

Canales para el control del caudal de agua

8

Tamaño de la fuente de alimentación

19" 4U, profundidad 480mm

Método de disipación de calor

refrigeración por agua


Aplicaciones

▪ ¿Cómo?Pruebas de dispositivos optoelectrónicos: se puede utilizar para pruebas de rendimiento de láseres de electrodos, LED y otros dispositivos optoelectrónicos,como el ensayo característico LIV (corrente - potencia óptica - voltaje), y obtener datos de rendimiento del dispositivo mediante un control preciso de corriente y voltaje y medición multiparámetros.
▪ ¿Cómo?Prueba de envejecimiento: Es adecuado para la prueba de envejecimiento de dispositivos optoelectrónicos, utilizando modos CW y QCW para simular diferentes condiciones de trabajo, suministro de energía estable durante mucho tiempo,y detectar los cambios de rendimiento del dispositivo durante el proceso de envejecimiento.

 

 

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Prueba de la fuente de alimentación del láser
Created with Pixso. 20A CW / 20A QCW Prueba de fuente de alimentación láser HCPL002 Fuente de alimentación láser de diodo de alta potencia

20A CW / 20A QCW Prueba de fuente de alimentación láser HCPL002 Fuente de alimentación láser de diodo de alta potencia

Nombre De La Marca: PRECISE INSTRUMENT
Número De Modelo: HCPL002
Cuota De Producción: 1 Unidad
Detalles Del Embalaje: En cartón.
Condiciones De Pago: T/T
Información detallada
Lugar de origen:
porcelana
Nombre de la marca:
PRECISE INSTRUMENT
Número de modelo:
HCPL002
Modos de trabajo:
CW y QCW
Corriente de pulso máxima:
20A
Corriente máxima de DC:
20A
Ancho del pulso:
100 μs Min., 1 μs Paso
Cantidad de orden mínima:
1 Unidad
Detalles de empaquetado:
En cartón.
Tiempo de entrega:
Entre 2 y 8 semanas
Condiciones de pago:
T/T
Capacidad de la fuente:
500 SET/MONTH
Resaltar:

20A Prueba de QCW de la fuente de alimentación láser

,

Fuente de alimentación láser de ensayo de 20A CW

,

HCPL002 Fuente de alimentación del láser de diodo

Descripción del producto

20A CW / 20A QCW Prueba de fuente de alimentación láser HCPL002 Fuente de alimentación láser de diodo de alta potencia

HCPL002 es una fuente de alimentación de prueba láser de alta potencia diseñada para satisfacer las necesidades de prueba más exigentes con tecnología avanzada.y las corrientes CW y QCW pueden alcanzar hasta 20A, proporcionando un soporte de alimentación estable y fiable para varios escenarios de ensayo.

 

Características del producto

▪ ¿Cómo?La salida actual presenta una precisión extremadamente alta, alcanzando una precisión del 0,1% para garantizar datos de ensayo confiables.

▪ ¿Cómo?Equipado con una robusta capacidad de resistencia a las sobretensiones, puede resistir eficazmente las sobretensiones repentinas de corriente, salvaguardando tanto el equipo como los dispositivos probados.

▪ ¿Cómo?Soporta pruebas de escaneo LIV (Light-Current-Voltage) para una evaluación integral del rendimiento de los dispositivos, al tiempo que ofrece diversos modos de escaneo para adaptarse a los diversos requisitos de prueba.

▪ ¿Cómo?Se proporcionan interfaces de comunicación múltiples (RS-485/LAN) para facilitar la integración perfecta con otros sistemas, lo que permite una transmisión y un control eficientes de los datos.

 

Parámetros del producto

Las partidas Parámetros
Entrada de potencia 220 V, 50/60 Hz

Modo de trabajo

CW y QCW

Ancho del pulso

100 μs min., pasos de 1 μs

Frecuencia del pulso

Ciclo de trabajo máximo 100% @20A, 10kHz, paso de 0,1Hz

Corriente de accionamiento por pulso

20A en pasos de 5mA

Corriente de transmisión de corriente continua

20A, 5mA pasos

Precisión de la corriente de accionamiento

Las emisiones de gases de efecto invernadero se calcularán en función de la temperatura de los gases de efecto invernadero.

Válvula de salida

60 V, adaptado a la carga

Medición del voltaje

rango de 3V, precisión ±0,1%±2mV; el rango es de 30V y la precisión ±0,1%±10mV; el rango es de 60V y la precisión ±0,1%±80mV

Canales de medición de voltaje

16 canales para la multiplexación de tiempo compartido

Detección de fotocorriente

0.1mA, precisión ±0,5%±1μA; 1mA, ±0,5%±8μA; 10mA, ±0,5%±60μA

Canales ópticos de detección de flujo

16 canales para la multiplexación de tiempo compartido

Canales de vigilancia de la temperatura

32 canales para la multiplexación por tiempo compartido

Canales para el control del caudal de agua

8

Tamaño de la fuente de alimentación

19" 4U, profundidad 480mm

Método de disipación de calor

refrigeración por agua


Aplicaciones

▪ ¿Cómo?Pruebas de dispositivos optoelectrónicos: se puede utilizar para pruebas de rendimiento de láseres de electrodos, LED y otros dispositivos optoelectrónicos,como el ensayo característico LIV (corrente - potencia óptica - voltaje), y obtener datos de rendimiento del dispositivo mediante un control preciso de corriente y voltaje y medición multiparámetros.
▪ ¿Cómo?Prueba de envejecimiento: Es adecuado para la prueba de envejecimiento de dispositivos optoelectrónicos, utilizando modos CW y QCW para simular diferentes condiciones de trabajo, suministro de energía estable durante mucho tiempo,y detectar los cambios de rendimiento del dispositivo durante el proceso de envejecimiento.