Sistemas de prueba de semiconductores de envejecimiento láser LDBI Sistema de prueba multicanal

LDBI multi-channel high-power laser aging system is specifically designed to address the issues of kilowatt-level high-power semiconductor laser chips and pump laser modules that require narrow pulse high current testing and agingLa empresa ha desarrollado de forma innovadora un sistema de ensayo de envejecimiento versátil, de alta potencia y enfriado con agua.
El producto presenta excelentes características de corriente constante de pulso estrecho de alta corriente, corriente estable y una fuerte capacidad antiinterferencia.Incluye también circuitos de doble protección para sobre tensión, retroceder EMF y protección contra sobretensiones, proporcionando una solución completa para la prueba de envejecimiento de los chips láser de semiconductores de alta potencia y los módulos láser de bomba.

Características del producto

▪ ¿Cómo?Un cajón único admite hasta 16 canales, un máximo de 8 cajones: cada cajón puede acomodar hasta 16 canales independientes, con una capacidad total de hasta 8 cajones.

▪ ¿Cómo?Canales independientes: todos los canales funcionan de forma independiente, garantizando la ausencia de interferencias entre los ensayos.

▪ ¿Cómo?Lectura de corriente y mediciones sincronizadas: mide automáticamente el voltaje, la potencia óptica y otros parámetros simultáneamente con la lectura de corriente.

▪ ¿Cómo?Película de calentamiento y control de temperatura: utiliza película de calentamiento para el control de la temperatura, con un rango de temperatura ambiente a 125 ° C.

▪ ¿Cómo?Fuente de alimentación resistente a las sobretensiones: diseñada para resistir las sobretensiones de potencia, garantizando un funcionamiento estable.

▪ ¿Cómo?Dispositivo de recogida de luz refrigerado por agua: Equipado con refrigeración por agua para gestionar el calor generado durante el funcionamiento.

▪ ¿Cómo?Precisión de alta temperatura: Precisión de temperatura absoluta de ±1°C, con uniformidad de temperatura de ±2°C en diferentes DUT (dispositivos sometidos a ensayo).

▪ ¿Cómo?Registro y exportación automática de datos de envejecimiento: registra automáticamente los datos de pruebas de envejecimiento y admite la exportación de datos para el análisis.

Parámetros del producto

Aplicaciones

Pruebas de dispositivos de potencia de semiconductores

▪ ¿Cómo?Mide con precisión los parámetros estáticos de los dispositivos de energía como MOSFET, BJT, IGBT, SiC (carburo de silicio) y GaN (nitruro de galio), incluido el voltaje de ruptura, la corriente de fuga, la resistencia de encendido,tensión límite, capacidad de unión, etc.

▪ ¿Cómo?Apoya los requisitos de ensayo de alto voltaje, alta corriente y alta precisión para semiconductores de tercera generación (por ejemplo, SiC, GaN).

Investigación de las propiedades eléctricas de los materiales semiconductores

▪ ¿Cómo?Proporciona pruebas de parámetros de rendimiento eléctrico para materiales semiconductores (por ejemplo, variación de corriente, voltaje, resistencia), apoyo a la I+D de materiales y validación de procesos.

Pruebas de componentes electrónicos de potencia de vehículos de nueva energía

▪ ¿Cómo?Se centra en las pruebas de parámetros estáticos de dispositivos IGBT y SiC de grado automotriz, que satisfacen las demandas de pruebas de alto voltaje y alta corriente bajo arquitecturas de 800V.Cubre aplicaciones básicas como inversores principales y pilas de carga.

Pruebas y control de calidad de la línea de producción de automatización industrial

▪ ¿Cómo?Permite pruebas de extremo a extremo desde laboratorios hasta líneas de producción en masa, incluidas pruebas de parámetros estáticos automatizados para obleas, chips, dispositivos y módulos.Compatible con sistemas de producción semiautomáticos (PMST-MP) y totalmente automatizados (PMST-AP).

Institución académica y de investigación Enseñanza y experimentos

▪ ¿Cómo?Se utiliza para experimentos de características físicas en circuitos integrados y dispositivos de energía, que cubren cursos como principios de dispositivos de semiconductores y electrónica analógica.Facilitar el desarrollo de centros de práctica de pruebas de chips.