Canal de video de China Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Chatea Contáctenos
En casa Vídeos Lista de reproducción Sobre nosotros Página web oficial
Español
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Polish
Persian
Bengali
Thai
Vietnamese
Arabic
Hindi
Turkish
Indonesian
loading

Unidad de medición de la fuente de corriente continua CS300

Equipo de ensayo multicanal
February 24, 2025
Chatea
Tiene un conjunto de comandos estándar de SCPI, flexibilidad de múltiples subtarjetas, software de host optimizado y modularidad eficiente en espacio.validación de la eficiencia energética del dispositivoBienvenido a visitar nuestro sitio web!
Equipo de ensayo multicanal
Vídeos relacionados
10V/500mA Cuatro canales de tarjeta de subdirección DC Unidad de medición de la fuente CS401 00:26
10V/500mA Cuatro canales de tarjeta de subdirección DC Unidad de medición de la fuente CS401

10V/500mA Cuatro canales de tarjeta de subdirección DC Unidad de medición de la fuente CS401
Equipo de ensayo multicanal
February 24, 2025
10V/500mA Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de cuatro canales CBI401 00:24
10V/500mA Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de cuatro canales CBI401

10V/500mA Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de cuatro canales CBI401
Equipo de ensayo multicanal
February 24, 2025
Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de 10V/1A de cuatro canales CBI402 00:24
Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de 10V/1A de cuatro canales CBI402

Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de 10V/1A de cuatro canales CBI402
Equipo de ensayo multicanal
February 24, 2025
10kV/6000A Analista de dispositivos de potencia Sistema de prueba estática PMST para MOSFET BJT semiconductores IGBT y SiC GaN 00:30
10kV/6000A Analista de dispositivos de potencia Sistema de prueba estática PMST para MOSFET BJT semiconductores IGBT y SiC GaN

10kV/6000A Analista de dispositivos de potencia Sistema de prueba estática PMST para MOSFET BJT semiconductores IGBT y SiC GaN
Sistemas de ensayo de semiconductores
February 26, 2025
Sistema de envejecimiento láser de alta potencia multicanal LDBI 00:34
Sistema de envejecimiento láser de alta potencia multicanal LDBI

Sistema de envejecimiento láser de alta potencia multicanal LDBI
Sistemas de ensayo de semiconductores
February 26, 2025
Instrumento preciso. Fuente de exploración Consistencia interna y externa. 01:24
Instrumento preciso. Fuente de exploración Consistencia interna y externa.

Instrumento preciso. Fuente de exploración Consistencia interna y externa.
Otros vídeos
February 17, 2025
Unidad de medición de la fuente de pulso P300B de 300V/4A/30A para semiconductores y materiales 00:24
Unidad de medición de la fuente de pulso P300B de 300V/4A/30A para semiconductores y materiales

Unidad de medición de la fuente de pulso P300B de 300V/4A/30A para semiconductores y materiales
Unidad de la medida de la fuente
February 24, 2025
Sistema de ensayo del sensor de corriente de 1000A CTMS 00:24
Sistema de ensayo del sensor de corriente de 1000A CTMS

Sistema de ensayo del sensor de corriente de 1000A CTMS
Sistemas de ensayo de semiconductores
February 26, 2025
Unidad de medición de la fuente de corriente continua S300B para ensayos de semiconductores de 300V/3A 00:24
Unidad de medición de la fuente de corriente continua S300B para ensayos de semiconductores de 300V/3A

Unidad de medición de la fuente de corriente continua S300B para ensayos de semiconductores de 300V/3A
Unidad de la medida de la fuente
February 24, 2025
300V/1A/10A Pruebas de semiconductores Cuatro cuadrantes de funcionamiento Pulso de la fuente del medidor P300 00:24
300V/1A/10A Pruebas de semiconductores Cuatro cuadrantes de funcionamiento Pulso de la fuente del medidor P300

300V/1A/10A Pruebas de semiconductores Cuatro cuadrantes de funcionamiento Pulso de la fuente del medidor P300
Unidad de la medida de la fuente
February 24, 2025