Canal de video de China Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Chatea Contáctenos
En casa Vídeos Lista de reproducción Sobre nosotros Página web oficial
Español
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Polish
Persian
Bengali
Thai
Vietnamese
Arabic
Hindi
Turkish
Indonesian
loading

Unidad de medición de la fuente de corriente continua CS200

Equipo de ensayo multicanal
February 24, 2025
Chatea
¡Bienvenido a visitar nuestro sitio web!
Equipo de ensayo multicanal
Vídeos relacionados
10V/500mA Cuatro canales de tarjeta de subdirección DC Unidad de medición de la fuente CS401 00:26
10V/500mA Cuatro canales de tarjeta de subdirección DC Unidad de medición de la fuente CS401

10V/500mA Cuatro canales de tarjeta de subdirección DC Unidad de medición de la fuente CS401
Equipo de ensayo multicanal
February 24, 2025
10V/500mA Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de cuatro canales CBI401 00:24
10V/500mA Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de cuatro canales CBI401

10V/500mA Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de cuatro canales CBI401
Equipo de ensayo multicanal
February 24, 2025
Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de 10V/1A de cuatro canales CBI402 00:24
Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de 10V/1A de cuatro canales CBI402

Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de 10V/1A de cuatro canales CBI402
Equipo de ensayo multicanal
February 24, 2025
10kV/6000A Analista de dispositivos de potencia Sistema de prueba estática PMST para MOSFET BJT semiconductores IGBT y SiC GaN 00:30
10kV/6000A Analista de dispositivos de potencia Sistema de prueba estática PMST para MOSFET BJT semiconductores IGBT y SiC GaN

10kV/6000A Analista de dispositivos de potencia Sistema de prueba estática PMST para MOSFET BJT semiconductores IGBT y SiC GaN
Sistemas de ensayo de semiconductores
February 26, 2025
Sistema de ensayo del sensor de corriente de 1000A CTMS 00:24
Sistema de ensayo del sensor de corriente de 1000A CTMS

Sistema de ensayo del sensor de corriente de 1000A CTMS
Sistemas de ensayo de semiconductores
February 26, 2025
Fuente de alimentación de pulso de alta corriente de 300A/30V HCPL030 para el ensayo HEMT SiC/IGBT/GaN 00:24
Fuente de alimentación de pulso de alta corriente de 300A/30V HCPL030 para el ensayo HEMT SiC/IGBT/GaN

Fuente de alimentación de pulso de alta corriente de 300A/30V HCPL030 para el ensayo HEMT SiC/IGBT/GaN
Suministro de energía de alta corriente
February 25, 2025
2 ms/s Tarjeta de adquisición de datos multicanal A400B Alta velocidad 00:27
2 ms/s Tarjeta de adquisición de datos multicanal A400B Alta velocidad

2 ms/s Tarjeta de adquisición de datos multicanal A400B Alta velocidad
Unidad de la medida de la fuente
February 26, 2025
Sistema de envejecimiento láser de alta potencia multicanal LDBI 00:34
Sistema de envejecimiento láser de alta potencia multicanal LDBI

Sistema de envejecimiento láser de alta potencia multicanal LDBI
Sistemas de ensayo de semiconductores
February 26, 2025
Instrumento preciso. Fuente de exploración Consistencia interna y externa. 01:24
Instrumento preciso. Fuente de exploración Consistencia interna y externa.

Instrumento preciso. Fuente de exploración Consistencia interna y externa.
Otros vídeos
February 17, 2025
Analista de parámetros de semiconductores de 1200V/100A SPA6100 00:36
Analista de parámetros de semiconductores de 1200V/100A SPA6100

Analista de parámetros de semiconductores de 1200V/100A SPA6100
Sistemas de ensayo de semiconductores
February 26, 2025