Canal de video de China Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Chatea Contáctenos
En casa Vídeos Lista de reproducción Website

Unidad de medición de fuentes de 3 ranuras 1003C con fiabilidad y escalabilidad de grado industrial

Equipo de ensayo multicanal
February 24, 2025
Category Connection: Equipo de ensayo multicanal
Chatea Contáctenos
Introducción de la Unidad de Medición de la Fuente 1003C, una solución de prueba de grado profesional con fiabilidad y escalabilidad de grado industrial, con diseño plug-in de 3 ranuras de subtarjetas, RS-232,Interfaces GPIB y Ethernet, y fuente de alimentación AC 100-240V, ideal para la investigación científica y escenarios de validación industrial, Bienvenido a visitar nuestro sitio web!
Las etiquetas:
#Unidad Smu #pxi SMU #Unidad de medida de origen PXI
Vídeos relacionados
10V/500mA Cuatro canales de tarjeta de subdirección DC Unidad de medición de la fuente CS401 00:26

10V/500mA Cuatro canales de tarjeta de subdirección DC Unidad de medición de la fuente CS401
Equipo de ensayo multicanal
February 24, 2025
10V/500mA Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de cuatro canales CBI401 00:24

10V/500mA Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de cuatro canales CBI401
Equipo de ensayo multicanal
February 24, 2025
Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de 10V/1A de cuatro canales CBI402 00:24

Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta de subcarga de 10V/1A de cuatro canales CBI402
Equipo de ensayo multicanal
February 24, 2025
Tarjeta de adquisición de datos A400 con resolución ADC de 16 bits y velocidad de muestreo de 1 ms/s 00:24

Tarjeta de adquisición de datos A400 con resolución ADC de 16 bits y velocidad de muestreo de 1 ms/s
Tarjeta de adquisición de datos
February 26, 2025
10kV/6000A Analista de dispositivos de potencia Sistema de prueba estática PMST para MOSFET BJT semiconductores IGBT y SiC GaN 00:30

10kV/6000A Analista de dispositivos de potencia Sistema de prueba estática PMST para MOSFET BJT semiconductores IGBT y SiC GaN
Sistemas de ensayo de semiconductores
February 26, 2025
Sistema de envejecimiento láser de alta potencia multicanal LDBI 00:34

Sistema de envejecimiento láser de alta potencia multicanal LDBI
Sistemas de ensayo de semiconductores
February 26, 2025
Fuente de alimentación de pulso de alta corriente de 1000A/18V HCPL100 para el ensayo HEMT SiC/IGBT/GaN 00:24

Fuente de alimentación de pulso de alta corriente de 1000A/18V HCPL100 para el ensayo HEMT SiC/IGBT/GaN
Unidad de la medida de la fuente
February 25, 2025
Instrumento preciso. Fuente de exploración Consistencia interna y externa. 01:24

Instrumento preciso. Fuente de exploración Consistencia interna y externa.
Otros vídeos
February 17, 2025
Analista de parámetros de semiconductores de 1200V/100A SPA6100 00:36

Analista de parámetros de semiconductores de 1200V/100A SPA6100
Sistemas de ensayo de semiconductores
February 26, 2025
2 ms/s Tarjeta de adquisición de datos multicanal A400B Alta velocidad 00:27

2 ms/s Tarjeta de adquisición de datos multicanal A400B Alta velocidad
Unidad de la medida de la fuente
February 26, 2025