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Unidad de prueba de pulso SMU de semiconductores Unidad de medición de la fuente P200B 100V 4A 30A

Unidad de medición de la fuente de pulso de alta corriente HCP100 Max 30A Unidad de medidor de la fuente de 50V

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1010C Unidad SMU multicanal para pruebas de semiconductores y caracterización de materiales

3 ranuras Sub tarjeta de conexión en SMU Unidad 1003C Unidad de medición de fuente

4 canales instrumentos nacionales SMU 10V 500mA Sub tarjeta fuente CC medida CS401

Suministro de energía de alta corriente

300A 30V Fuente de alimentación de pulso de alta corriente HCPL030 para SiC IGBT GaN HEMT prueba

Fuente de corriente de pulso de alta corriente 1000A 18V HCPL100 Fuente de alimentación programable

Fuente de energía de alto voltaje

Fuente de alimentación de alta tensión de 2200V 100mA Fuente de alimentación de tensión constante de E200

3500V/100mA Fuente de energía de alta tensión E300 Medidor de fuente de alta tensión

Fuente de alimentación de alta tensión de 8000V 40mA E800 para pruebas SiC / IGBT / GaN HEMT

Unidad de medición de la fuente de alimentación de alta tensión de 1200V 100mA para el ensayo de tensión de avería IGBT

Prueba de la fuente de alimentación del láser

20A CW / 20A QCW Prueba de fuente de alimentación láser HCPL002 Fuente de alimentación láser de diodo de alta potencia

HCPL006 Fuente de alimentación del láser de diodo 60A CW/60A QCW Fuente de alimentación del láser de ensayo

60A CW / 600A QCW Testing Laser Power Supply HCPL060 Diodo de energía láser

Tarjeta de adquisición de datos

Tarjeta de adquisición de datos de alta velocidad Pxi SMU de 2 ms/s con múltiples canales

1MS/S Tarjeta de adquisición de datos A400 4 canales Tarjeta Daq de resolución ADC de 16 bits

Sistemas de ensayo de semiconductores

Sistemas de ensayo de semiconductores de 1200V/100A para el análisis de parámetros de semiconductores SPA6100

Sistema de ensayo C-V para dispositivos semiconductores de 10 Hz a 1 MHz

Sistema de ensayo de sensores de corriente de 1000A CTMS Equipo de ensayo de semiconductores

Sistemas de prueba de semiconductores de envejecimiento láser LDBI Sistema de prueba multicanal

Prueba estática del analizador de dispositivos de potencia de 10kV/6000A PMST para Mosfet BJT IGBT SiC GaN Semiconductor

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